DIN 50443-1:1988 Испытание материалов для использования в полупроводниковой технике; обнаружение кристаллических дефектов и неоднородностей в монокристаллах кремния методом рентгеновской топографии - Стандарты и спецификации PDF

DIN 50443-1:1988
Испытание материалов для использования в полупроводниковой технике; обнаружение кристаллических дефектов и неоднородностей в монокристаллах кремния методом рентгеновской топографии

Стандартный №
DIN 50443-1:1988
Дата публикации
1988
Разместил
German Institute for Standardization
состояние
Последняя версия
DIN 50443-1:1988
сфера применения
Настоящий стандарт определяет методы распознавания дефектов и неоднородностей в полупроводниковых монокристаллах кремния методом рентгеновской топографии.

DIN 50443-1:1988 История

  • 1988 DIN 50443-1:1988 Испытание материалов для использования в полупроводниковой технике; обнаружение кристаллических дефектов и неоднородностей в монокристаллах кремния методом рентгеновской топографии



© 2023. Все права защищены.