IEC 60749-37:2022
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 37. Метод испытания падением уровня платы с использованием акселерометра.
- Стандартный №
- IEC 60749-37:2022
- Дата публикации
- 2022
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Последняя версия
- IEC 60749-37:2022
IEC 60749-37:2022 История
- 0000 IEC 60749-37:2022 RLV
- 2008 IEC 60749-37:2008 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 37. Метод испытания падением уровня платы с использованием акселерометра.
