DIN EN 60749-38:2008-10
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 38. Метод испытания на мягкую ошибку для полупроводниковых приборов с памятью (IEC 60749-38:2008)

Стандартный №

DIN EN 60749-38:2008-10

Дата публикации

2008

Разместил

German Institute for Standardization

Последняя версия

DIN EN 60749-38:2008-10

DIN EN 60749-38:2008-10 История

• 2008 DIN EN 60749-38:2008-10 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 38. Метод испытания на мягкую ошибку для полупроводниковых приборов с памятью (IEC 60749-38:2008)
• 2008 DIN EN 60749-38:2008 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 38. Метод испытания на мягкие ошибки для полупроводниковых приборов с памятью (IEC 60749-38:2008); Немецкая версия EN 60749-38:2008.