T/JSSIA 0004-2017
Габаритные размеры корпуса чипа уровня пластины (Англоязычная версия)

Стандартный №

T/JSSIA 0004-2017

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2017

Разместил

Group Standards of the People's Republic of China

Последняя версия

T/JSSIA 0004-2017

сфера применения

Этот стандарт определяет габаритные размеры пакета измерения микросхем уровня пластины (WLCSP) и применим к проверке размеров готовых устройств пакета шкалы чипов уровня пластины (WLCSP).

T/JSSIA 0004-2017 История

• 2017 T/JSSIA 0004-2017 Габаритные размеры корпуса чипа уровня пластины