UNE-EN 62132-2:2011
Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ячейки TEM и широкополосной ячейки TEM (одобрено AENOR в июле 2011 г.).

Стандартный №

UNE-EN 62132-2:2011

Дата публикации

2011

Разместил

ES-UNE

Последняя версия

UNE-EN 62132-2:2011

UNE-EN 62132-2:2011 История

• 2011 UNE-EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ячейки TEM и широкополосной ячейки TEM (одобрено AENOR в июле 2011 г.).