ANSI/IEEE Std 300-1982
Стандартные процедуры испытаний IEEE для полупроводниковых детекторов заряженных частиц

Стандартный №

ANSI/IEEE Std 300-1982

Дата публикации

1992

Разместил

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Последняя версия

ANSI/IEEE Std 300-1982

сфера применения

Целью настоящего стандарта является установление стандартных процедур испытаний полупроводниковых детекторов заряженных частиц. Эти детекторы широко используются для обнаружения и спектроскопии высокого разрешения заряженных частиц. Желательно поддерживать стандартные процедуры испытаний, чтобы измерения имели одинаковое значение для всех производителей и пользователей. Не все испытания, описанные в настоящем стандарте...

ANSI/IEEE Std 300-1982 История

• 1992 ANSI/IEEE Std 300-1982 Стандартные процедуры испытаний IEEE для полупроводниковых детекторов заряженных частиц