В этом документе указаны требования к тестированию, методы тестирования и правила проверки микросхем флэш-памяти (далее - микросхемы) в высоконадежной энергонезависимой памяти промышленного уровня и на данный момент не затрагиваются ПЗУ. Этот документ применим к идентификации, приемке, оценке и тестированию высоконадежных микросхем флэш-памяти промышленного уровня и встроенных микросхем энергонезависимой памяти.
T/CIE 070-2020 История
2020T/CIE 070-2020 Оценка промышленных высоконадежных интегральных схем. Часть 4: Энергонезависимая память