EN IEC 63202-1:2019 Фотоэлектрические элементы. Часть 1. Измерение светоиндуцированной деградации фотоэлектрических элементов из кристаллического кремния. - Стандарты и спецификации PDF

EN IEC 63202-1:2019
Фотоэлектрические элементы. Часть 1. Измерение светоиндуцированной деградации фотоэлектрических элементов из кристаллического кремния.

Стандартный №
EN IEC 63202-1:2019
Дата публикации
2019
Разместил
European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC)
Последняя версия
EN IEC 63202-1:2019
сфера применения
В стандарте IEC 63202-1:2019 описаны процедуры измерения светоиндуцированной деградации (LID) фотоэлектрических (PV) элементов из кристаллического кремния при искусственном солнечном свете. Величина LID в фотоэлектрическом элементе из кристаллического кремния определяется путем сравнения максимальной выходной мощности в стандартных условиях испытаний (STC) до и после воздействия имитированного солнечного света при заданной температуре и освещенности. Целью этого документа является предоставление стандартизированной информации о крышке фотоэлектрического элемента, чтобы помочь производителям фотоэлектрических модулей свести к минимуму несоответствие между элементами в одном модуле и тем самым максимизировать выходную мощность.

EN IEC 63202-1:2019 История

  • 2019 EN IEC 63202-1:2019 Фотоэлектрические элементы. Часть 1. Измерение светоиндуцированной деградации фотоэлектрических элементов из кристаллического кремния.



© 2023. Все права защищены.