EN 61788-17:2013 Сверхпроводимость. Часть 17. Измерения электронных характеристик. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках большой площади.
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
Последняя версия
EN 61788-17:2013
сфера применения
В стандарте IEC 61788-17:2013 описываются измерения локальной критической плотности тока (Jc) и ее распределения в пленках высокотемпературных сверхпроводников (ВТСП) большой площади индуктивным методом с использованием напряжения третьей гармоники. Важнейшим соображением для точных измерений является определение Jc при температурах жидкого азота по электрическо-полевому критерию и получение вольт-амперных характеристик по его частотной зависимости. Хотя возможно измерение Jc в приложенных магнитных полях постоянного тока, область применения настоящего стандарта ограничена измерениями без магнитных полей постоянного тока. Этот метод по существу измеряет критический ток слоя, который является произведением Jc и толщины пленки d. Диапазон и разрешение измерения Jcd ВТС-пленок составляют от 200 А/м до 32 кА/м, разрешение измерения 100 А/м.
EN 61788-17:2013 История
2013EN 61788-17:2013 Сверхпроводимость. Часть 17. Измерения электронных характеристик. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках большой площади.