SAE J1752-3-1995
Процедуры измерения электромагнитной совместимости интегральных схем - Процедура измерения излучаемых излучений интегральных схем от 150 кГц до 1000 МГц@ TEM Cell@ Рекомендуемая практика (март 1995 г.)

Стандартный №

SAE J1752-3-1995

Дата публикации

1995

Разместил

SAE - SAE International

состояние

быть заменен 2011-07

быть заменен

SAE J1752-3-2003

Последняя версия

SAE J1752-3-2017

SAE J1752-3-1995 История

• 2017 SAE J1752-3-2017 Процедуры измерения электромагнитной совместимости интегральных схем. Процедуры измерения ЭМС интегральных схем. Общие положения и определения.
• 2011 SAE J1752-3-2011 Измерение излучаемого излучения интегральных схем — метод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц) @ Широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)
• 2003 SAE J1752-3-2003 Процедуры измерения электромагнитной совместимости интегральных схем. Процедуры измерения ЭМС интегральных схем. Общие положения и определения.
• 1995 SAE J1752-3-1995 Процедуры измерения электромагнитной совместимости интегральных схем - Процедура измерения излучаемых излучений интегральных схем от 150 кГц до 1000 МГц@ TEM Cell@ Рекомендуемая практика (март 1995 г.)