Цеолит NaA использовался в качестве активного компонента в молекулярных ситах, используемых в качестве осушителей для природного газа, потоков технологического газа, герметичных изолированных окон, а также в качестве модификатора (умягчителя воды) в бытовых моющих средствах для стирки. Эта рентгеновская процедура предназначена для определения относительной степени кристаллизации NaA при производстве NaA. Относительное число кристалличности оказалось полезным в технологии, исследованиях и спецификациях. Резкие изменения интенсивности отдельных пиков на рентгенограмме NaA могут быть результатом изменения распределения электронной плотности внутри элементарной ячейки цеолита NaA. Распределение электронной плотности зависит от степени заполнения пор цеолита молекулами-гостями и от природы молекул-гостей. В этом методе XRD молекула гостя H2O полностью заполняет поры. Изменения интенсивности также могут произойти, если некоторые или все катионы натрия в NaA заменяются другими катионами. Резкие изменения общей интенсивности могут быть результатом изменений в поглощении рентгеновских лучей, приписываемых некристаллическим фазам, если они присутствуют в образце NaA. Если присутствуют кристаллические фазы, не являющиеся цеолитом, их дифракционные пики могут перекрываться с некоторыми дифракционными пиками NaA, выбранными для этого метода испытаний. Если есть основания подозревать наличие таких компонентов, то для анализа следует выбирать свободные от интерференции пики NaA.1.1 Настоящий метод испытаний охватывает процедуру определения относительной кристалличности цеолита натрия А (цеолита NaA) с использованием выбранных пиков из X -дифрактограмма цеолита. 1.2 Термин «интенсивность пика рентгеновской порошковой дифракции (XRD)» относится к «интегральной интенсивности», представляющей собой либо площадь отсчетов под пиком, либо произведение высоты пика и ширины пика на половине высоты. 1.3 Данный метод испытаний дает число, которое представляет собой отношение интенсивности участков рентгенограммы образца к интенсивности соответствующего участка картины эталонного цеолита NaA. Отношение интенсивностей, выраженное в процентах, затем обозначается как «% интенсивности XRD/NaA». 1.4 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ASTM D5357-03 История
2019ASTM D5357-19 Стандартный метод определения относительной кристалличности цеолита натрия А методом рентгеновской дифракции
2003ASTM D5357-03(2013) Стандартный метод определения относительной кристалличности цеолита натрия А методом рентгеновской дифракции
2003ASTM D5357-03(2008)e1 Стандартный метод определения относительной кристалличности цеолита натрия А методом рентгеновской дифракции
2003ASTM D5357-03 Стандартный метод определения относительной кристалличности цеолита натрия А методом рентгеновской дифракции
1998ASTM D5357-98 Стандартный метод определения относительной кристалличности цеолита натрия А методом рентгеновской дифракции