IEEE C62.35-2010 Стандартные методы испытаний компонентов полупроводниковых устройств защиты от перенапряжений с лавинным переходом - Стандарты и спецификации PDF

IEEE C62.35-2010
Стандартные методы испытаний компонентов полупроводниковых устройств защиты от перенапряжений с лавинным переходом

Стандартный №
IEEE C62.35-2010
Дата публикации
2010
Разместил
IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.
Последняя версия
IEEE C62.35-2010
сфера применения
Настоящий стандарт распространяется на кремниевые диоды лавинного пробоя (ABD) с двумя или несколькими выводами, которые являются одним из типов компонентов устройства защиты от перенапряжения (SPDC). В этом документе@ эти устройства будут называться ABD. ABD ограничивают (фиксируют) переходные напряжения и отводят переходные токи. Настоящий стандарт содержит термины@, символы и определения@ и предоставляет методы испытаний для проверки номиналов и характеристик измерительных устройств. Также предоставляются условия эксплуатации и режим отказа. Настоящий стандарт может также применяться к другим компонентам кремниевых устройств защиты от перенапряжений с аналогичными характеристиками VI.

IEEE C62.35-2010 История

  • 2010 IEEE C62.35-2010 Стандартные методы испытаний компонентов полупроводниковых устройств защиты от перенапряжений с лавинным переходом
  • 1987 IEEE C62.35-1987 Стандартные спецификации испытаний полупроводниковых устройств защиты от перенапряжений с лавинным переходом



© 2023. Все права защищены.