ISO 19668:2017
Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Оценка и отчетность о пределах обнаружения элементов в однородных материалах.

Стандартный №

ISO 19668:2017

Дата публикации

2017

Разместил

International Organization for Standardization (ISO)

Последняя версия

ISO 19668:2017

сфера применения

В этом документе указана процедура, с помощью которой пределы обнаружения элементов в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS) могут быть оценены на основе данных для конкретного образца в обычных аналитических ситуациях и представлены в отчете. Настоящий документ применим к однородным материалам и не применим, если распределение элементов по глубине неоднородно в пределах информационной глубины методики.

ISO 19668:2017 Ссылочный документ

• ISO 18115-1 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 1. Общие термины и термины, используемые в спектроскопии.*， 2023-06-01 Обновление
• ISO 18115-2 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.*， 2021-12-21 Обновление

ISO 19668:2017 История

• 2017 ISO 19668:2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Оценка и отчетность о пределах обнаружения элементов в однородных материалах.