NF EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ячейки TEM и широкополосная ячейка TEM. - Стандарты и спецификации PDF

NF EN 62132-2:2011
Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ячейки TEM и широкополосная ячейка TEM.

Стандартный №
NF EN 62132-2:2011
Дата публикации
2011
Разместил
Association Francaise de Normalisation
Последняя версия
NF EN 62132-2:2011

NF EN 62132-2:2011 История

  • 2011 NF EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ячейки TEM и широкополосная ячейка TEM.



© 2023. Все права защищены.