UNE-EN 62047-13:2012
Полупроводниковые устройства. Микроэлектромеханические устройства. Часть 13. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления для МЭМС-структур (одобрено AENOR в июне 2012 г.)

Стандартный №

UNE-EN 62047-13:2012

Дата публикации

2012

Разместил

ES-UNE

Последняя версия

UNE-EN 62047-13:2012

UNE-EN 62047-13:2012 История

• 2012 UNE-EN 62047-13:2012 Полупроводниковые устройства. Микроэлектромеханические устройства. Часть 13. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления для МЭМС-структур (одобрено AENOR в июне 2012 г.)