IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.
Последняя версия
IEEE 1149.6-2015
сфера применения
Этот стандарт определяет расширения IEEE Std 1149.1? стандартизировать структуры и методы периферийного сканирования, необходимые для обеспечения простого@ надежного@ и минимально интрузивного тестирования периферийного сканирования современных цифровых сетей.1 Такие сети не рассматриваются должным образом в существующих стандартах@, особенно для тех сетей, которые связаны с переменным током@. дифференциал@ или и то, и другое. Тестирование, проводимое по этому стандарту, будет проводиться параллельно с тестированием обычных цифровых сетей по стандарту IEEE Std 1149.1 и совместно со стандартом IEEE Std 1149.4? тестирование обычных аналоговых сетей. Этот стандарт также определяет программное обеспечение и расширения языка описания граничного сканирования (BSDL) для IEEE Std 1149.1@, которые необходимы для поддержки новых структур тестирования ввода-вывода. Цель Существующие стандарты тестирования периферийного сканирования (IEEE Std 1149.1 @ IEEE Std 1149.4) не в полной мере охватывают некоторые из все более распространенных@ новых топологий цифровых сетей@, таких как дифференциальные межсоединения со связью по переменному току на очень высоких скоростях (1+ Гбит/с). цифровые пути передачи данных. Структуры и методы IEEE Std 1149.1 предназначены для тестирования статических (связанных по постоянному току) несимметричных сетей. Они не могут тестировать динамические (связанные по переменному току) цифровые сети@, поскольку связь по переменному току блокирует статические сигналы. Дифференциальные сети также неадекватно тестируются по стандарту IEEE 1149.1@, который требует либо вставки граничных ячеек между дифференциальным драйвером или приемником и микросхемными площадками (это часто приводит к неприемлемому ухудшению производительности)@, либо вставки одиночных граничных ячеек перед дифференциальным драйвером и после дифференциального приемника (это снижает управляемость и наблюдаемость до такой степени, что многие дефекты сборки платы невозможно обнаружить). Структуры и методы IEEE Std 1149.4 предназначены для тестирования аналоговых сетей и в большинстве случаев не позволяют тестировать также и эти новые цифровые сети. В частности @ IEEE Std 1149.4 предоставляет возможность вводить динамические (изменяющиеся во времени) или аналоговые сигналы для тестирования @, но эти структуры, предназначенные для аналогового тестирования, часто слишком навязчивы (слишком сильное влияние на производительность и количество выводов) для высокоскоростных микросхем @. и требуют дополнительных ресурсов и времени для тестирования приложений, которые иначе не требуются для тестирования цифровых схем. Наконец, сверхбыстродействующая логика накладывает новые ограничения на тестовые структуры, которые не рассматривались в стандарте IEEE Std 1149.1. 1 Информацию о ссылках можно найти в разделе 2.
IEEE 1149.6-2015 История
2015IEEE 1149.6-2015 Тестирование передовых цифровых сетей с помощью граничного сканирования (Компьютерное общество IEEE)
2003IEEE 1149.6-2003 Стандарт тестирования передовых цифровых сетей методом граничного сканирования Документ IEEE Computer Society