IEC 60749-41:2020
Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 41. Стандартные методы испытаний на надежность устройств энергонезависимой памяти.
- Стандартный №
- IEC 60749-41:2020
- Дата публикации
- 2020
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Последняя версия
- IEC 60749-41:2020
IEC 60749-41:2020 История
- 2020 IEC 60749-41:2020 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 41. Стандартные методы испытаний на надежность устройств энергонезависимой памяти.
