EN IEC 60749-41:2020 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 41. Стандартные методы испытаний на надежность устройств энергонезависимой памяти. - Стандарты и спецификации PDF

EN IEC 60749-41:2020
Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 41. Стандартные методы испытаний на надежность устройств энергонезависимой памяти.

Стандартный №
EN IEC 60749-41:2020
Дата публикации
2020
Разместил
European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC)
Последняя версия
EN IEC 60749-41:2020
сфера применения
МЭК 60749-41:2020 определяет процедурные требования для проведения действительных испытаний на выносливость, удержание и перекрестные температуры на основе квалификационных спецификаций. Квалификационные требования к выносливости и удерживанию (для количества циклов, длительности, температуры и размеров выборки) указаны в JESD47 или разрабатываются с использованием методов, основанных на знаниях, таких как JESD94.

EN IEC 60749-41:2020 История

  • 2020 EN IEC 60749-41:2020 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 41. Стандартные методы испытаний на надежность устройств энергонезависимой памяти.



© 2023. Все права защищены.