В этом документе описан метод оптического неразрушающего контроля внутренних остаточных напряжений в пластинах SiC. Этот документ применим к пластинам SiC с соответствующей толщиной и коэффициентом пропускания более 30% для тестового света в диапазоне видимого света с длиной волны 400–700 нм.
T/ZSA 38-2020 История
2020T/ZSA 38-2020 Экспериментальный метод определения остаточных напряжений в пластинах SiC