EN 61788-15:2011 Сверхпроводимость. Часть 15. Измерения электронных характеристик. Собственный поверхностный импеданс сверхпроводниковых пленок на микроволновых частотах.
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization
Последняя версия
EN 61788-15:2011
сфера применения
В этой части стандарта IEC 61788 описаны измерения внутреннего поверхностного импеданса (ZS) ВТСП-пленок на микроволновых частотах с использованием модифицированного метода диэлектрического резонатора с двумя резонансными режимами. Целью измерений является получение температурной зависимости собственной ZS на резонансной частоте f0. Диапазон частот и толщин, а также разрешение измерения собственного ZS пленок ВТСП следующие: ? частота: до 40 ГГц; ? толщина пленки: более 50 нм; ? разрешение измерения: 0@01 м?? на частоте 10 ГГц. Должны быть представлены данные собственного ZS на измеренной частоте@, масштабированные до 10 ГГц@, с учетом правила f2 для собственного поверхностного сопротивления RS (f < 40 ГГц) и правила f для собственного поверхностного реактивного сопротивления XS для сравнения@.
EN 61788-15:2011 История
2011EN 61788-15:2011 Сверхпроводимость. Часть 15. Измерения электронных характеристик. Собственный поверхностный импеданс сверхпроводниковых пленок на микроволновых частотах.