В этом документе описан метод испытаний для определения остаточных напряжений в поликристаллических материалах методом нейтронографии. Он применим как к однородным, так и к неоднородным материалам, в том числе содержащим отдельные фазы. Изложены принципы нейтронографического метода. Даны предложения по:
——выбору соответствующих плоскостей дифракционной решетки, на которых следует проводить измерения для различных категорий материалов;
——направлениям образца, в которых следует проводить измерения;
——объему исследуемого материала в зависимости от зерна материала. размер и предполагаемое напряженное состояние. Описаны процедуры точного позиционирования и выравнивания испытуемых образцов в нейтронном пучке, а также точного определения объема материала, отобранного для отдельных измерений. Описаны меры предосторожности, необходимые при калибровке нейтронографических приборов. Представлены методы получения справки без стресса. Подробно описаны методы проведения индивидуальных измерений методом дифракции нейтронов. Представлены процедуры анализа результатов и определения их статистической значимости. Предоставляются советы о том, как определить надежные оценки остаточных напряжений на основе данных о деформации и как оценить неопределенность результатов.
EN ISO 21432:2020 История
2020EN ISO 21432:2020 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии (ISO 21432:2019)