IEC 63229:2021 Полупроводниковые приборы. Классификация дефектов эпитаксиальной пленки нитрида галлия на подложке из карбида кремния. - Стандарты и спецификации PDF

IEC 63229:2021
Полупроводниковые приборы. Классификация дефектов эпитаксиальной пленки нитрида галлия на подложке из карбида кремния.

Стандартный №
IEC 63229:2021
Дата публикации
2021
Разместил
International Electrotechnical Commission (IEC)
Последняя версия
IEC 63229:2021

IEC 63229:2021 История

  • 2021 IEC 63229:2021 Полупроводниковые приборы. Классификация дефектов эпитаксиальной пленки нитрида галлия на подложке из карбида кремния.



© 2023. Все права защищены.