BS ISO 22415:2019
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод определения объема выхода при профилировании глубины аргонового кластерного распыления органических материалов

Стандартный №

BS ISO 22415:2019

Дата публикации

2019

Разместил

British Standards Institution (BSI)

Последняя версия

BS ISO 22415:2019

сфера применения

Что такое ISO 22415? ISO 22415 определяет метод измерения и составления отчета об объемах аргонового кластерного распыления конкретного органического материала. Этот метод требует одного или нескольких тестовых образцов указанного материала в виде тонкой однородной пленки с толщиной k от 50 и 1000 нанометров на плоской подложке, которая имеет химический состав, отличный от указанного материала.ISO 22415 применим к испытательным образцам, в которых указанный слой материала имеет однородный состав по глубине, и не применяется, если распределение компонентов по глубине в указанный материал неоднороден.ISO 22415 применим к приборам, в которых...

BS ISO 22415:2019 История

• 2019 BS ISO 22415:2019 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод определения объема выхода при профилировании глубины аргонового кластерного распыления органических материалов