IEEE/IEC 63003-2015 Международный стандарт IEC/IEEE для конфигурации схемы контактов общего тестового интерфейса для требований к одноуровневым испытаниям электроники высокой плотности с использованием IEEE Std 1505(TM) - Стандарты и спецификации PDF

IEEE/IEC 63003-2015
Международный стандарт IEC/IEEE для конфигурации схемы контактов общего тестового интерфейса для требований к одноуровневым испытаниям электроники высокой плотности с использованием IEEE Std 1505(TM)

Стандартный №
IEEE/IEC 63003-2015
Разместил
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Последняя версия
IEEE/IEC 63003-2015

IEEE/IEC 63003-2015 История

  • 1970 IEEE/IEC 63003-2015 Международный стандарт IEC/IEEE для конфигурации схемы контактов общего тестового интерфейса для требований к одноуровневым испытаниям электроники высокой плотности с использованием IEEE Std 1505(TM)



© 2023. Все права защищены.