Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Последняя версия
IEEE Std 1450.6.2-2014
сфера применения
Повторное использование тестовых данных и тестовых структур, разработанных для отдельных ядер (проектов) при их интеграции в более крупные интегральные схемы, требуется для тестов системы на кристалле (SoC). Этот стандарт определяет языковые конструкции, достаточные для представления контекста ядра памяти и интеграция этого ядра памяти в SoC. Это облегчает разработку и повторное использование механизмов тестирования и восстановления...
IEEE Std 1450.6.2-2014 История
2014IEEE Std 1450.6.2-2014 Стандарт IEEE для моделирования памяти на базовом языке тестирования