IEEE Std 300-1988
Стандартные процедуры испытаний IEEE для полупроводниковых детекторов заряженных частиц

Стандартный №

IEEE Std 300-1988

Дата публикации

1988

Разместил

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

состояние

быть заменен

быть заменен

IEEE Std 300-1988(R2006)

Последняя версия

IEEE Std 300-1988(R2006)

сфера применения

Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые детекторы излучения, которые используются для обнаружения и спектроскопии высокого разрешения заряженных частиц.Описанные методы измерения были выбраны так, чтобы быть легко доступными для всех производителей и пользователей детекторов заряженных частиц.Целью настоящего стандарта является разработать стандартные процедуры испытаний полупроводниковых детекторов заряженных частиц.

IEEE Std 300-1988 История

• 0000 IEEE Std 300-1988(R2006)
• 1988 IEEE Std 300-1988 Стандартные процедуры испытаний IEEE для полупроводниковых детекторов заряженных частиц
• 1982 IEEE 300-1982 СТАНДАРТНЫЕ ПРОЦЕДУРЫ ИСПЫТАНИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ДЕТЕКТОРОВ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ
• 1970 IEEE 300-1969 Стандарт США и процедура испытаний IEEE для полупроводниковых детекторов радиации (для ионизирующего излучения)