EN 62132-2:2011
Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной ТЕМ-ячейки.

Стандартный №

EN 62132-2:2011

Дата публикации

2011

Разместил

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）

Последняя версия

EN 62132-2:2011

сфера применения

В стандарте IEC 62132-2:2010 указан метод измерения устойчивости интегральной схемы (ИС) к радиочастотному (РЧ) излучению электромагнитных помех. Диапазон частот этого метода составляет от 150 кГц до 1 ГГц или ограничивается характером. эристика ячейки ТЕМ.

EN 62132-2:2011 История

• 2011 EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной ТЕМ-ячейки.