DIN SPEC 52407:2015-03
Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
- Стандартный №
- DIN SPEC 52407:2015-03
- Дата публикации
- 2015
- Разместил
- German Institute for Standardization
- Последняя версия
- DIN SPEC 52407:2015-03
DIN SPEC 52407:2015-03 История
- 2015 DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
