GB/T 32997-2016 Химический анализ поверхности. Общие процедуры количественного профилирования состава по глубине методом оптической эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда. (Англоязычная версия)
2016GB/T 32997-2016 Химический анализ поверхности. Общие процедуры количественного профилирования состава по глубине методом оптической эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда.