KS C IEC 60749-3-2019
Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр
Стартовая страница
KS C IEC 60749-3-2019
Стандартный №
KS C IEC 60749-3-2019
Дата публикации
2019
Разместил
KR-KS
состояние
быть заменен
быть заменен
KS C IEC 60749-3:2021
Последняя версия
KS C IEC 60749-3:2021
KS C IEC 60749-3-2019 История
2021
KS C IEC 60749-3:2021
Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр
2019
KS C IEC 60749-3:2019
Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр
2002
KS C IEC 60749-3:2002
Дискретные полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр.
© 2023. Все права защищены.