ASTM E948-09 Стандартный метод испытаний электрических характеристик фотоэлектрических элементов с использованием эталонных элементов под воздействием искусственного солнечного света
Целью данного метода испытаний является предоставление признанного метода тестирования и составления отчетов об электрических характеристиках фотоэлектрических элементов. Результаты испытаний можно использовать для сравнения ячеек в группе аналогичных ячеек или для сравнения различных конструкций, например, продуктов разных производителей. Повторные измерения одной и той же ячейки могут использоваться для изучения изменений в производительности устройства. Этот метод испытаний определяет электрические характеристики элемента на основе выходной мощности в один момент времени. Он не обеспечивает интегрирование выходной мощности за заданный период времени и условий для прогнозирования выходной энергии. Для этого метода испытаний требуется эталонная ячейка, откалиброванная по соответствующему эталонному спектральному распределению освещенности, такому как таблицы E 490 или G 173. Пользователь несет ответственность за определение того, какое эталонное спектральное распределение освещенности подходит для конкретного применения.1.1 Этот метод испытаний охватывает определение электрических характеристик фотоэлектрического элемента при искусственном солнечном свете с помощью процедуры калиброванного эталонного элемента. 1.2 Измерения электрических характеристик сообщаются в соответствии с выбранным набором стандартных условий отчетности (SRC) (см. Таблицу 1) или с условиями, указанными пользователем. 1.2.1 SRC или условия, заданные пользователем, включают температуру ячейки, общую освещенность и эталонное спектральное распределение освещенности. 1.3 Этот метод испытаний применим только к фотоэлектрическим элементам с линейной характеристикой в интересующем диапазоне. 1.4 Параметры ячейки, определенные данным методом испытаний, применимы только во время испытаний и не подразумевают ни прошлого, ни будущего уровня производительности. 1.5 Значения, указанные в единицах СИ, следует считать стандартными. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены. 1.6 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием. ТАБЛИЦА 1 Стандартные условия отчетности Справочное спектральное распределение освещенностиОбщая освещенность (Вт·м²)Температура (°C) Таблицы G 173 Прямой нормальный1000 25 Таблицы G 173 Полусферический 1000 25 Таблицы E 4901366.1 25
ASTM E948-09 История
2020ASTM E948-16(2020) Стандартный метод испытаний электрических характеристик фотоэлектрических элементов с использованием эталонных элементов под воздействием искусственного солнечного света
2016ASTM E948-16 Стандартный метод испытаний электрических характеристик фотоэлектрических элементов с использованием эталонных элементов под воздействием искусственного солнечного света
2015ASTM E948-15 Стандартный метод испытаний электрических характеристик фотоэлектрических элементов с использованием эталонных элементов под воздействием искусственного солнечного света
2009ASTM E948-09 Стандартный метод испытаний электрических характеристик фотоэлектрических элементов с использованием эталонных элементов под воздействием искусственного солнечного света
2005ASTM E948-05a Стандартный метод испытаний электрических характеристик фотоэлектрических элементов с использованием эталонных элементов под воздействием искусственного солнечного света
2005ASTM E948-05 Стандартный метод испытаний электрических характеристик фотоэлектрических элементов с использованием эталонных элементов под воздействием искусственного солнечного света
1995ASTM E948-95(2001) Стандартный метод испытаний электрических характеристик фотоэлектрических элементов с использованием эталонных элементов под воздействием искусственного солнечного света
1995ASTM E948-95 Стандартный метод испытаний электрических характеристик фотоэлектрических элементов с использованием эталонных элементов под воздействием искусственного солнечного света