SAE AS6171/9-2016 Методы обнаружения подозрительных/поддельных деталей EEE с помощью методов тестирования инфракрасной спектроскопии с преобразованием Фурье (FTIR)
В этом документе определяются возможности и ограничения FTIR-спектроскопии в отношении обнаружения поддельных электронных компонентов и предлагаются возможные применения для этих целей. Кроме того, в этом документе излагаются требования, связанные с применением FTIR-спектроскопии, включая: обучение операторов@ подготовку проб@ различные методы отбора проб@ интерпретацию данных@ компьютеризированное спектральное сопоставление, включая критерии соответствия/несоответствия@ техническое обслуживание оборудования@ и представление данных. Обсуждение в первую очередь направлено на анализ, выполненный в среднем инфракрасном диапазоне (ИК) от 400 до 4000 волновых чисел; однако@ многие концепции применимы как к ближнему, так и к дальнему ИК-диапазону. Если в контракте упоминается AS6171/9, также применяется базовый документ@ Общие требования AS6171.
SAE AS6171/9-2016 История
2022SAE AS6171/9-2022 Методы обнаружения подозрительных/поддельных деталей EEE с помощью методов тестирования инфракрасной спектроскопии с преобразованием Фурье (FTIR)
2016SAE AS6171/9-2016 Методы обнаружения подозрительных/поддельных деталей EEE с помощью методов тестирования инфракрасной спектроскопии с преобразованием Фурье (FTIR)