NF EN 60749-35:2006
Полупроводниковые приборы. Климатические и механические методы испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых корпусах.

Стандартный №

NF EN 60749-35:2006

Дата публикации

2006

Разместил

Association Francaise de Normalisation

Последняя версия

NF EN 60749-35:2006

NF EN 60749-35:2006 История

• 2006 NF EN 60749-35:2006 Полупроводниковые приборы. Климатические и механические методы испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых корпусах.