В этом техническом отчете описывается история деградации печатных плат, вызванная электрохимической миграцией@ метод измерения@наблюдение за неисправностью и подробные примечания к испытаниям.
IEC TR 62866:2014 История
2014IEC TR 62866:2014 Электрохимическая миграция в печатных платах и сборках - Механизмы и испытания