NF C96-017*NF EN 62374:2008 Полупроводниковые приборы. Испытание на временной пробой диэлектрика (TDDB) для диэлектрических пленок затвора - Стандарты и спецификации PDF

NF C96-017*NF EN 62374:2008
Полупроводниковые приборы. Испытание на временной пробой диэлектрика (TDDB) для диэлектрических пленок затвора

Стандартный №
NF C96-017*NF EN 62374:2008
Дата публикации
2008
Разместил
Association Francaise de Normalisation
Последняя версия
NF C96-017*NF EN 62374:2008

NF C96-017*NF EN 62374:2008 История

  • 2008 NF C96-017*NF EN 62374:2008 Полупроводниковые приборы. Испытание на временной пробой диэлектрика (TDDB) для диэлектрических пленок затвора



© 2023. Все права защищены.