В этом документе представлена матрица методов измерения для характеристики общих физико-химических параметров нанообъектов. Некоторые методы измерения также применимы к наноструктурным материалам. Этот документ применим для измерения общих физических и химических параметров в области нанотехнологий, а также для измерения физических и химических параметров в других областях. ПРИМЕЧАНИЕ. В Приложении А приведены рекомендации по разделению и подготовке проб.