DIN EN 62047-13:2012-10 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 13. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления для МЭМС-структур (IEC 62047-13:2012); Немецкая версия EN 62047-13:2012. - Стандарты и спецификации PDF

DIN EN 62047-13:2012-10
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 13. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления для МЭМС-структур (IEC 62047-13:2012); Немецкая версия EN 62047-13:2012.

Стандартный №
DIN EN 62047-13:2012-10
Дата публикации
2012
Разместил
German Institute for Standardization
Последняя версия
DIN EN 62047-13:2012-10

DIN EN 62047-13:2012-10 История

  • 2012 DIN EN 62047-13:2012-10 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 13. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления для МЭМС-структур (IEC 62047-13:2012); Немецкая версия EN 62047-13:2012.
  • 2012 DIN EN 62047-13:2012 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 13. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления для МЭМС-структур (IEC 62047-13:2012); Немецкая версия EN 62047-13:2012.



© 2023. Все права защищены.