SJ/T 11706-2018
Метод испытания программируемой вентильной матрицы для полупроводниковых интегральных схем (Англоязычная версия)

Стандартный №

SJ/T 11706-2018

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2018

Разместил

工业和信息化部

Последняя версия

SJ/T 11706-2018

SJ/T 11706-2018 История

• 2018 SJ/T 11706-2018 Метод испытания программируемой вентильной матрицы для полупроводниковых интегральных схем