IEC 63275-2:2022
Полупроводниковые приборы. Метод испытания надежности дискретных металлооксидных полупроводниковых полевых транзисторов из карбида кремния. Часть 2. Метод испытания на биполярное ухудшение вследствие работы внутреннего диода.
- Стандартный №
- IEC 63275-2:2022
- Дата публикации
- 2022
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Последняя версия
- IEC 63275-2:2022
IEC 63275-2:2022 История
- 2022 IEC 63275-2:2022 Полупроводниковые приборы. Метод испытания надежности дискретных металлооксидных полупроводниковых полевых транзисторов из карбида кремния. Часть 2. Метод испытания на биполярное ухудшение вследствие работы внутреннего диода.
