European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
Последняя версия
EN IEC 60749-18:2019
сфера применения
МЭК 60749-18:2019 доступен как МЭК 60749-18:2019 RLV, который содержит международный стандарт и его версию Redline, показывающую все изменения технического содержания по сравнению с предыдущим изданием. МЭК 60749-18:2019 предоставляет процедуру испытаний для определение требований к испытаниям корпусных полупроводниковых интегральных схем и дискретных полупроводниковых приборов на воздействие ионизирующего излучения (суммарной дозы) источника гамма-излучения кобальта-60 (60Со). Могут быть использованы и другие подходящие источники излучения. В этом документе рассматривается только стационарное облучение и не применимо к облучению импульсного типа. Он предназначен для применения в военной и аэрокосмической сфере. Это разрушительное испытание. В это издание включены следующие существенные технические изменения по сравнению с предыдущим изданием:
——обновления подразделов для лучшего согласования метода испытаний с MIL-STD 883J, метод 1019, включая использование тестирования повышенной чувствительности к низкой мощности дозы (ELDRS);
——добавление библиографии, включающей стандарты ASTM, относящиеся к данному методу испытаний.
EN IEC 60749-18:2019 История
2019EN IEC 60749-18:2019 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 18. Ионизирующее излучение (суммарная доза)