ASTM E2926-17
Стандартный метод испытаний для судебно-медицинского сравнения стекла с использованием микрорентгенофлуоресцентной (µ 　——XRF) спектрометрии

Стандартный №

ASTM E2926-17

Дата публикации

2017

Разместил

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Последняя версия

ASTM E2926-17

сфера применения

1.1 Настоящий метод испытаний предназначен для определения основных, второстепенных и микроэлементов, присутствующих во фрагментах стекла. Элементный состав фрагмента стекла можно измерить с помощью микро-РФА-анализа для сравнения стекла. 1.2 Настоящий метод испытаний охватывает применение микро-РФА с использованием моно- и поликапиллярной оптики и энергодисперсионного рентгеновского детектора (ЭДС). 1.3 Этот метод тестирования не заменяет знания, навыки, способности, опыт, образование или подготовку и должен использоваться в сочетании с профессиональным суждением. 1.4 Значения, указанные в единицах СИ, следует считать стандартными. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены. 1.5 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.

ASTM E2926-17 Ссылочный документ

• ASTM E177 Стандартная практика использования терминов «точность» и «предвзятость» в методах испытаний ASTM
• ASTM E2330 Стандартный метод испытаний для определения концентраций элементов в образцах стекла с использованием масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (ICP-MS) для судебно-медицинских сравнений*， 2019-12-01 Обновление

ASTM E2926-17 История

• 2017 ASTM E2926-17 Стандартный метод испытаний для судебно-медицинского сравнения стекла с использованием микрорентгенофлуоресцентной (µ 　——XRF) спектрометрии
• 2013 ASTM E2926-13 Стандартный метод испытаний для судебно-медицинского сравнения стекла с использованием микрорентгеновской флуоресценции lpar;micro; 　——XRFrpar; Спектрометрия