DIN EN IEC 60749-37:2023
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 37. Метод испытания падением уровня платы с использованием акселерометра (IEC 47/2651/CDV:2020); Немецкая и английская версия prEN IEC 60749-37:2020.