GB/T 34326-2017
Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для профилирования по глубине в AES и XPS. (Англоязычная версия)

Стандартный №

GB/T 34326-2017

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2017

Разместил

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

Последняя версия

GB/T 34326-2017

GB/T 34326-2017 История

• 2017 GB/T 34326-2017 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для профилирования по глубине в AES и XPS.