GB/T 33657-2017 Нанотехнологии - Спецификация испытаний электрических рабочих параметров наноразмерных ячеек памяти с фазовым изменением уровня пластины. (Англоязычная версия)
2017GB/T 33657-2017 Нанотехнологии - Спецификация испытаний электрических рабочих параметров наноразмерных ячеек памяти с фазовым изменением уровня пластины.