NF X21-011*NF ISO 24173:2009
Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов

Стандартный №

NF X21-011*NF ISO 24173:2009

Дата публикации

2009

Разместил

Association Francaise de Normalisation

Последняя версия

NF X21-011*NF ISO 24173:2009

NF X21-011*NF ISO 24173:2009 История

• 2009 NF X21-011*NF ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов