SAE EIA-4900-2016 Использование полупроводниковых приборов за пределами установленных производителем температурных диапазонов - Стандарты и спецификации PDF

SAE EIA-4900-2016
Использование полупроводниковых приборов за пределами установленных производителем температурных диапазонов

Стандартный №
SAE EIA-4900-2016
Дата публикации
2016
Разместил
SAE - SAE International
состояние
 2016-01
Последняя версия
SAE EIA-4900-2016
сфера применения
Этот документ описывает процессы использования полупроводниковых устройств в более широких температурных диапазонах, чем те, которые указаны производителем устройства. Он применяется к любому разработчику или производителю оборудования, предназначенного для работы в условиях, требующих, чтобы полупроводниковые устройства работали в температурных диапазонах, выходящих за пределы тех, для которых эти устройства продаются. Этот документ предназначен для приложений, в которых проблема связана только с производительностью устройства. Даже если устройство используется при более высоких температурах@, более широкие температуры будут ограничены теми, которые не ставят под угрозу производительность системы или надежность устройства в конкретном приложении. В частности@ этот документ не предназначен для приложений, которые требуют, чтобы устройство функционировало при рабочем уровне или уровне воздействия окружающей среды, который значительно увеличивает риск катастрофического отказа устройства@ потери функциональности оборудования@ или нестабильной работы устройства. Использование устройств за пределами параметров, указанных производителем устройства, не рекомендуется; однако@ такое использование может иметь место, если другие варианты окажутся невозможными@ неразумными@ или непрактичными. Примечание. Альтернативные способы повышения температуры могли быть применены производителем оборудования до реализации настоящего документа. Обоснование принятых решений могло быть обоснованным с учетом применения@ условий рынка полупроводников@ опыта работы с конкретным производителем компонентов@ и т. д. на момент принятия этих решений. Полевые характеристики с использованием этих методов также могут подтвердить их использование@, однако их дальнейшее использование должно учитывать риск изменений в рассматриваемых устройствах, таких как уменьшение размера функций@ изменения материалов@ и т. д.

SAE EIA-4900-2016 История

  • 2016 SAE EIA-4900-2016 Использование полупроводниковых приборов за пределами установленных производителем температурных диапазонов



© 2023. Все права защищены.