ISO 24417:2022 Химический анализ поверхности. Анализ металлических нанослоев на подложках на основе железа методом оптико-эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда. - Стандарты и спецификации PDF

ISO 24417:2022
Химический анализ поверхности. Анализ металлических нанослоев на подложках на основе железа методом оптико-эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда.

Стандартный №
ISO 24417:2022
Дата публикации
2022
Разместил
International Organization for Standardization (ISO)
Последняя версия
ISO 24417:2022
сфера применения
В этом документе описан оптико-эмиссионный спектрометрический метод тлеющего разряда для определения толщины и массы на единицу площади одиночных и металлических нанослоев на подложках на основе железа. Этот метод применим к одиночным и металлическим нанослоям толщиной от 10 до 100 нм на подложках на основе железа. Металлическими элементами слоев являются Cr, Ni, Ti, Mn и Al. Другими элементами, которые можно определить согласно этому документу, являются P и S.

ISO 24417:2022 Ссылочный документ

  • ISO 14284 Сталь и железо. Отбор и подготовка проб для определения химического состава.*2022-10-25 Обновление
  • ISO 14707 Химический анализ поверхности. Оптическая эмиссионная спектрометрия тлеющего разряда (GD-OES). Введение в использование.

ISO 24417:2022 История

  • 2022 ISO 24417:2022 Химический анализ поверхности. Анализ металлических нанослоев на подложках на основе железа методом оптико-эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда.



© 2023. Все права защищены.