BS ISO 11938:2012
Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Методы элементного картографического анализа с использованием спектроскопии с дисперсией по длине волны
- Стандартный №
- BS ISO 11938:2012
- Дата публикации
- 2013
- Разместил
- British Standards Institution (BSI)
- состояние
- 2013-04
- быть заменен
- BS ISO 11938:2013
- Последняя версия
- BS ISO 11938:2013
- сфера применения
- Область применения Настоящий международный стандарт описывает процедуры электронного микрозондового элементного картирования с использованием спектрометрии с дисперсией по длине волны. Оценивается выбор между картированием с использованием электронного луча, движущегося в цифровом виде по образцу (картирование электронным лучом) и картированием только с движением предметного столика (картирование большой площади). В нем описываются пять типов обработки данных: метод необработанных данных об интенсивности рентгеновского излучения, метод значения k, метод калибровки, метод корреляции и метод матричной коррекции.
BS ISO 11938:2012 История
- 2013 BS ISO 11938:2013 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Методы элементного картографического анализа с использованием спектроскопии с дисперсией по длине волны
- 2013 BS ISO 11938:2012 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Методы элементного картографического анализа с использованием спектроскопии с дисперсией по длине волны
