BS EN IEC 60749-17:2019
Отслеживаемые изменения. Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Нейтронное облучение
- Стандартный №
- BS EN IEC 60749-17:2019
- Дата публикации
- 2019
- Разместил
- British Standards Institution (BSI)
- Последняя версия
- BS EN IEC 60749-17:2019
- сфера применения
- Что такое BS EN IEC 60749-17? BS EN IEC 60749-17 — это 17-я часть международного стандарта, охватывающего характеристики полупроводниковых устройств. Он определяет метод испытаний нейтронным облучением для определения параметров деградации критических полупроводниковых устройств. В стандарте BS EN IEC 60749-17 указано, что испытание нейтронным облучением проводится для определения восприимчивости полупроводниковых устройств к деградации неионизирующих потерь энергии (NIEL). В нем приводятся технические спецификации, такие как соответствующие термины и определения, испытательное оборудование, процедура испытаний, требования безопасности и т. д.
BS EN IEC 60749-17:2019 История
- 2019 BS EN IEC 60749-17:2019 Отслеживаемые изменения. Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Нейтронное облучение
