European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
Последняя версия
EN 60749-34:2010
сфера применения
В стандарте IEC 60749-34:2010 описан метод испытаний, используемый для определения устойчивости полупроводникового устройства к тепловым и механическим нагрузкам из-за циклического рассеивания мощности внутреннего полупроводникового кристалла и внутренних разъемов. Это происходит, когда низковольтные рабочие смещения прямой проводимости (токи нагрузки) периодически применяются и удаляются, вызывая быстрые изменения температуры. Испытание на включение и выключение питания предназначено для моделирования типичных применений в силовой электронике и дополняет определение срока службы при высоких температурах (см. IEC 60749-23). Воздействие этого испытания может не вызвать те же механизмы отказа, что и воздействие циклического изменения температуры воздух-воздух или быстрое изменение температуры при использовании метода двухжидкостных ванн. Это испытание вызывает износ и считается разрушительным. Настоящее второе издание отменяет и заменяет первое издание, опубликованное в 2004 году, и представляет собой техническую доработку. К существенным изменениям по сравнению с предыдущей редакцией относятся:
——уточнение более жестких условий для более ускоренного циклирования мощности в режиме усталости проволочного соединения;
——информация о том, что в жестких условиях циклического включения питания высокие плотности тока в тонкой металлизации кристалла могут инициировать эффекты электромиграции вблизи проводных связей.
EN 60749-34:2010 История
2010EN 60749-34:2010 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 34. Выключение и выключение питания
2004EN 60749-34:2004 Полупроводниковые приборы Механические и климатические методы испытаний Часть 34. Циклическая обработка